2013年春季第60回応用物理学関係連合講演会 理化学・計測機材展

2013-02-06
日時 2013年3月27日 – 3月30日
会場 神奈川工科大学(神奈川県厚木市下荻野1030)
出展内容

SPECS Surface Nano Analysis社:

  1. Near Ambient Pressure XPS PHOIBOS 150 NAP System
  2. LEEM/PEM System
  3. ESCA and SNMS/SIMS System
  4. PHOIBOS 225, PHOIBOS 100/150, PHOIBOS 150 WAL
  5. Modular Detector for Hemispherical Analyzer
  6. JT-STM System & Precision SPM Head Tyto
  7. SPM 150 Aarhus with KolibriSensor
  8. STM 150 Aarhus High Temperature
  9. KolibriSensor Starter Kit
  10. Nanonis SPM Control System & Oscillation Controller OC4
  11. TOF Spectrometer & High Resolution EELS
  12. LEED Optics
  13. RHEED System
  14. Ion, Electron, UV and X-Ray Sources
  15. MBE & Deposition Equipment

Ferrovac社:

  1. UHV精密ウォーブルスティック
  2. 直線回転導入機他

Zurich Instruments社

  1. 高速ロックインアンフ

SPM用プローブ関連製品

  1. チューニングフォーク
  2. ニードルセンサー
  3. KolibriSensor Starter Kit
  4. チューニングフォーク取付用基板
  5. チューニングフォーク用UHVプリアンプ
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